elektronmikroszkóp – Az emberi szem kb. 0,1 mm-nél kisebb méreteket nem képes felbontani. Az optikai mikroszkóp ezt a felbontást többszáz­szorosra növeli (µm alá). A fénymikroszkóp felbontását azonban a fény hul­lámhossza (kb. 500 nm) behatárolja. Az anyag kettős természete teszi lehe­tővé az elektronsugárral működő mikroszkópot, ahol ez a korlát megszűnik, mivel az elektronok sebességének növelésével a de Broglie-hullámhossz csökkenthető (100 kV gyorsítófeszültségnél a hullámhossz 0,004 nm). Az elektronmikroszkóp újabb hasonló nagyságrendű nagyítást tesz lehetővé a felbontást nm alá csökkentve. Optikai lencsék helyett elektromos és mágneses terekkel térítik el az elektronsugarat (elektronoptika), fókuszálják azt, és végzik a képalkotást. Technikai jellegénél fogva az elektronmikroszkóp sokkal bonyolultabb berendezés, mint a fénymikroszkóp (nagy vákuum, magas gyorsító feszültség). Az elektronmikroszkópiában két fő módszert al­kalmaznak. A transzmissziós elektronmikroszkópnál (TEM) az elektronsugárral átvilágítják a mintát, azonban a mintának vékonynak kell lennie annak el­kerülésére, hogy az elektronok a mintában elnyelődjenek. A pásztázó elektron­mikroszkópnál (SEM) az elektronsugarat a minta felületére fókuszálják, és a kis fókuszpontot pásztázó módon végigvezetik a minta felületén. A keltett másodlagos elektronok alkotják a képet. Az elektronsugár által keltett karak­terisztikus röntgensugárzás is vizsgálható.